Обеспечьте полный контроль качества электроники с помощью неразрушающих методов рентгеновского излучения и компьютерной томографии
Приглашаем посетить вебинар по теме: "Как обеспечить полный контроль качества электроники с помощью неразрушающих методов контроля рентгеновским излучением и компьютерной томографией"
Дата: 18 ноября , 2020Время: 18:00 Минск / 15:00 Лондон / 10:00 Нью-Йорк
Зарегистрироваться бесплатно
Ключевые цели обучения:
- Узнайте, как добиться более целостного и полного контроля качества электроники (микросхем, плат)
- Изучение решений для неразрушающего контроля, таких как микрофокусное и нанофокусное рентгеновское излучение, способных проконтролировать целостность электронных компонентов (видимых и невидимых областей).
Использование электронных компонентов во всем мире стремительно растет. Они являются важными элементами продуктов, которые помогают нам управлять повседневной жизнью и ориентироваться в ней: компьютеры, мобильные телефоны, автомобили, самолеты и все виды средств управления.
Независимо от того, где производятся эти детали, необходим контроль качества компонентов в таких отраслях, как авиация, бытовая электроника и автомобилестроение. Будь то проверка полупроводников, печатных плат или литий-ионных аккумуляторов, производители должны соблюдать отраслевые стандарты не только ради собственной надежности, но и критически важно для общественной безопасности. Однако, полагаясь исключительно на оптический контроль и / или электрические испытания, Производители, скорее всего, не смогут добиться полного уровня контроля- то, что вы не сможете увидеть, (паяное соединение или неявный дефект) будет находиться ниже уровня поверхности и во время контроля будет пропущено.
На этом веб-семинаре мы исследуем следующее поколение решений электронного контроля качества с помощью нано- и микрофокусных рентгеновских решений для предотвращения и смягчения последствий отказов электронных продуктов.
Благодаря использованию методов 2D-инспекции с высоким разрешением в сочетании с решениями 3D-компьютерной томографии с высоким разрешением, эти методы также являются неразрушающими, но все же способны обеспечить более высокий уровень уверенности, поскольку они используют высокое разрешение как в видимых, так и в невидимых областях для обеспечения всестороннего анализа, гарантируя качество продукции.
Мы также обсудим, как эти новые решения для инспекций помогают производителям повысить безопасность, обеспечить соответствие нормативным требованиям и создать устойчивые бизнес-модели в производстве полупроводников, печатных плат и литий-ионных батарей.
Мы часто воспринимаем безопасность как должное - рентгеновские решения с нанофокусом и микрофокусом - это наш путь вперед, помогающий нам обрести душевное спокойствие, зная, что уровень безопасности растет вместе с числом применений и совершенствованием электроники. Зарегистрируйтесь на наш вебинар сегодня, чтобы узнать, как добиться полного контроля качества электроники.
Спикер:Доктор Тобиас Нойбранд,
Технический руководитель
по электронике, Waygate Technologies
Тобиас - технический руководитель компании Baker Hughes Waygate Technologies, расположенной в Вунсторфе недалеко от Ганновера, Германия. Сосредоточившись на компьютерной томографии 2D и 3D, он работает в Waygate Technologies с июля 2006 года. Начал с должности инженера по приложениям в компании Phoenix | x-ray Systems and Services GmbH. Позже Тобиас в течение года занимал различные должности, такие как менеджер по продукции для систем электронного контроля 2D и руководитель центра решений для клиентов в Вунсторфе в GE Inspection Technologies. Он имеет степень доктора физической химии Ганноверского университета.
